離子遷移測(cè)試是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法

  　　離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。

　　離子遷移測(cè)試是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓)，在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試條件下，檢測(cè)兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。

　　將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時(shí)間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，這是一種間斷式的測(cè)試方法。

　　有效的離子遷移測(cè)試，需要將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上，在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試樣品上的泄漏電流。

　　該系統(tǒng)廣泛用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。

　　該系統(tǒng)能夠充分滿足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相關(guān)測(cè)試規(guī)范，通過將評(píng)估試樣置于高壓、高溫高濕環(huán)境下，通過實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料絕緣阻抗的變化，記錄相關(guān)數(shù)據(jù)和曲線，幫助使用人員對(duì)材料特性進(jìn)行量化分析。

　　主要應(yīng)用行業(yè)：通訊設(shè)備、船舶汽車、計(jì)算機(jī)、航空航天、半導(dǎo)體，印制電路板等。

　　1、高準(zhǔn)確測(cè)量

　　自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，采用標(biāo)準(zhǔn)大的反饋式電流表，電流測(cè)量精度高，低壓高阻測(cè)試效果明顯;

　　偏置電源和電流表可進(jìn)行極性翻轉(zhuǎn)，消除電勢(shì)差，保證測(cè)試精度。

　　2、抗干擾力強(qiáng)

　　使用特氟龍護(hù)套，多股鍍銀的導(dǎo)線，屏蔽措施好，系統(tǒng)抗干擾力強(qiáng)

　　3、應(yīng)力電壓范圍廣泛

　　標(biāo)配100V應(yīng)力電壓(應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓)，有300V、500V高電壓規(guī)格備選。

　　4、保證安全測(cè)試

　　完善的保護(hù)電路設(shè)計(jì)，端口短路也能夠保證測(cè)試儀表和系統(tǒng)能夠正常工作

　　5、漏電流檢測(cè)功能

　　高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

　　以上內(nèi)容便是本次為大家分享關(guān)于離子遷移測(cè)試的相關(guān)信息，希望大家在看完之后能夠?qū)υ摦a(chǎn)品有更多的了解。