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ContourX-500德國(guó)BRUKER中國(guó)代理白光干涉儀
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理白光干涉儀ContourX-500：具備性價(jià)比的ContourX-200光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹(shù)立了新基準(zhǔn)。占地面積小，融合了布魯克幾十年的專*白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測(cè)量能力。

更新時(shí)間：2026-04-15 訪問(wèn)量：19 型號(hào)：ContourX-500
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FilmTek 2000德國(guó)布魯克中國(guó)代理商薄膜光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
德國(guó)布魯克中國(guó)代理商薄膜光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)基于非接觸式光學(xué)技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無(wú)損、高精度同步測(cè)定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實(shí)現(xiàn)折射率分辨率高達(dá)2×10??，測(cè)量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電子、先*封裝及硅光子學(xué)等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準(zhǔn)可靠的解決方案。

更新時(shí)間：2026-04-09 訪問(wèn)量：55 型號(hào)：FilmTek 2000
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德國(guó)布魯克中國(guó)代理白光干涉儀ContourX-500
德國(guó)布魯克中國(guó)代理白光干涉儀ContourX-500：具備性價(jià)比的ContourX-200光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹(shù)立了新基準(zhǔn)。占地面積小，融合了布魯克幾十年的專*白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測(cè)量能力。

更新時(shí)間：2026-04-09 訪問(wèn)量：61 型號(hào)：
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德國(guó)BRUKER納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)中國(guó)代理TI990
德國(guó)BRUKER納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)中國(guó)代理TI990：該產(chǎn)品具有超凡的性能、精度、可靠性和通用性，可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)和微米級(jí)定量力學(xué)和摩擦學(xué)表征。Hysitron產(chǎn)品線**的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)采用多種**技術(shù)，能夠在其他系統(tǒng)無(wú)法達(dá)到的尺度上實(shí)現(xiàn)定量表征。

更新時(shí)間：2026-04-08 訪問(wèn)量：36 型號(hào)：
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德國(guó)BRUKER薄膜光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)FilmTek 2000
德國(guó)BRUKER薄膜光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)FilmTek 2000基于非接觸式光學(xué)技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無(wú)損、高精度同步測(cè)定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實(shí)現(xiàn)折射率分辨率高達(dá)2×10??，測(cè)量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電子、封裝及硅光子學(xué)等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準(zhǔn)可靠的解決方案。

更新時(shí)間：2026-04-03 訪問(wèn)量：65 型號(hào)：
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RUKER中國(guó)代理商白光干涉儀ContourX-1000
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理商白光干涉儀ContourX-1000，專為高效獲取高精度三維表面紋理與粗糙度測(cè)量而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)融合了布魯克三十余年的技術(shù)創(chuàng)新與全新專有軟件，在保持優(yōu)異測(cè)量效率和高重復(fù)性的同時(shí)，進(jìn)一步簡(jiǎn)化操作流程。其憑借出色的穩(wěn)定性與易用性，可廣泛應(yīng)用于各類精密表面計(jì)量場(chǎng)景。

更新時(shí)間：2026-04-03 訪問(wèn)量：66 型號(hào)：
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