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德國BRUKE中國代理白光干涉儀NPFLEX-1000
德國BRUKE中國代理白光干涉儀NPFLEX-1000是一款高精度立式白光干涉儀，專為精密加工領(lǐng)域的QA/QC設計，提供從納米到宏觀級別的高靈活性表面測量方案。其獨特的結(jié)構(gòu)設計兼容多種樣品尺寸與形狀，輕松應對復雜測量角度。該系統(tǒng)在汽車、醫(yī)療及增材制造等行業(yè)中，可輸出符合量規(guī)級精度（GRR）要求的表面紋理與粗糙度數(shù)據(jù)，兼具高重復性與高產(chǎn)能。

更新時間：2026-04-08 訪問量：108 型號：
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德國BRUKER薄膜光學測量系統(tǒng)FilmTek 2000M
德國BRUKER薄膜光學測量系統(tǒng)FilmTek 2000M基于非接觸式光學技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無損、高精度同步測定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實現(xiàn)折射率分辨率高達2×10??，測量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應用于半導體、光電子、封裝及硅光子學等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準可靠的解決方案。

更新時間：2026-03-23 訪問量：111 型號：
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FilmTek 2000德國BRUKER中國代理商薄膜光學測量系統(tǒng)
德國BRUKER中國代理商薄膜光學測量系統(tǒng)基于非接觸式光學技術(shù)，集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置，內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法，可快速、無損、高精度同步測定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實現(xiàn)折射率分辨率高達2×10??，測量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應用于半導體、光電子、先*封裝及硅光子學等領(lǐng)域，為薄膜表征提供精準可靠的解決方案。

更新時間：2026-03-23 訪問量：94 型號：FilmTek 2000
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德國BRUKE中國代理白光干涉儀ContourX-500
德國BRUKE中國代理白光干涉儀ContourX-500：具備性價比的ContourX-200光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。占地面積小，融合了布魯克幾十年的專*白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。

更新時間：2026-03-19 訪問量：109 型號：
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ContourX-200德國BRUKE中國代理白光干涉儀
德國BRUKE中國代理白光干涉儀：具備性價比的ContourX-200光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。占地面積小，融合了布魯克幾十年的專*白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術(shù)，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。

更新時間：2026-03-18 訪問量：101 型號：ContourX-200
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TI990德國BRUKER中國代理納米力學測試系統(tǒng)
德國BRUKER中國代理納米力學測試系統(tǒng)以專*技術(shù)實現(xiàn)納米至微米尺度定量力學與摩擦學表征。產(chǎn)品涵蓋獨立臺式（TI系列）、電鏡聯(lián)用（PI系列）及在線自動系統(tǒng)，支持準靜態(tài)壓痕、動態(tài)力學（nanoDMA）、摩擦磨損、原位SPM成像及超快力學性能成像。配備環(huán)境控制模塊，可模擬實際工況。廣泛應用于半導體、薄膜涂層、生物材料及能源等領(lǐng)域，為材料研發(fā)提供精準、可靠的多維度測試解決方案。

更新時間：2026-03-16 訪問量：124 型號：TI990
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